328 с., изд-во: МИСИС, город: М., стр. : 328 с., обложка: Издательский переплет, формат: Энциклопедический, состояние: Отличное. В книге описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу, текстурному анализу и спектроскопии. Тираж 3000 экз.
Цена: 400 руб.
#15626584, код: albom3783