Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д. и др., Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. В 2-х книгах.
Пер. с англ.

1984, изд-во: Мир, город: Москва, стр. : 304 с., 352 с., обложка: Издательский твердый переплет, формат: Обычный, состояние: Отличное - очень хорошее (надломлен уголок задней крышки переплета Т. 1). В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики при боров, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов. Многочисленные иллюстрации и обширная библиография.