1075, изд-во: Мир, город: Москва, стр. : 384 с., обложка: Издательский переплет, формат: Увеличенный, состояние: Хорошее. В книге Л. Жирифалько в ясной и доступной форме излагаются основы статистической физики кристаллов. В ней давно уже ставшее классическим описание статистики и кинетики электронной и фононной подсистем кристалла. Кроме того, почти половина объема книги посвящена статистике и диффузионной кинетике точечных дефектов кристаллической решетки. Книгу Л. Жирифалько отличает целевой замысел: автор последовательно отбирает именно те проблемы, при решении которых сила статистического метода проявляется наиболее отчетливо. При этом основное внимание уделяется наиболее простым моделям, позволяющим донести результат теории до числа и вскрыть физический смысл как исходных предпосылок модели, так и полученных результатов. Книга предназначена для физиков, инженеров, химиков, работающих в области физики и химии твердого тела, материаловедения и смежных дисциплинах, ее можно также рекомендовать в качестве учебного пособия студентам, изучающим теорию твердого тела.
Цена: 150 руб.
отправка из Санкт-Петербурга
#15544257, код: Спб3763